半导体芯片温度冲击试验箱控制系统： 温湿度控制仪表采用进口TEMI880 ,LED触摸屏操作简单,程式编辑容易,无须按键输入,屏幕直接触摸选项。 控制器操作界面设中英文可供选择,实时运转曲线图可由屏幕显示。 具有100组程式1000段999循环步骤的容量,每段时间设定值为99小时59分。
带视窗玻璃冷热冲击试验箱结构特点： 主体结构设计：低温储冷区﹑高温储热区﹑测试区，三部份主体结构。 符合试验条件：符合MIL，IEC，JIS，IPC…，二箱式或三箱式试验规格。 内外箱材质：内箱，不锈钢板（SUS#304），外箱，粉体烤漆。
变压器温度冲击试验箱三箱下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件（待测品）放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。
贴片灯温度冲击试验箱温湿控制器：*触摸式中英文人机接口,数据与数据银幕显示交谈方式温湿度控制器,单点及可程控,中文、英文可随意切换,银幕背光可调。
